产品详情
简单介绍:
绝缘老化测量评估系统(SIR绝缘老化测试系统)使离子迁移、绝缘电阻测量及绝缘特性评价成为可能的“3Way USE型”
详情介绍:
绝缘老化测量评估系统(SIR绝缘老化测试系统)使离子迁移、绝缘电阻测量及绝缘特性评价成为可能的“3Way USE型”
所有频道均带有微小电流计,可以连续并高速(40ms/8ch)地进行测量,正确捕捉瞬时发生、结束的离子迁移现象。
250V计测基板为8ch/1电源,MAX达128ch,500V计测基板为1ch/1电源,max达64ch,新设计的120V计测基板可以按每1ch分别设定试验条件(施加电压、电流测量值)
可以对应力施加电压和测量电压进行任意设定,通过切换时间可避免发生测量遗漏的情况。
以往机型的测量基板也可以并用。
绝缘老化测量评估系统还可以与SIR11、12 用测量基板混合使用。
施加电压 120V•250V•500V•1KV DC
测量频道 16ch/基板(max 128ch)
*:120V、500V、1KV为8ch/基板(max 64ch)
电流测量范围 1) 320μA ~ 10nA
2) 3.2μA ~ 10pA
3) 32nA ~ 1pA
迁移测量速度 40ms(8ch)
所有频道均带有微小电流计,可以连续并高速(40ms/8ch)地进行测量,正确捕捉瞬时发生、结束的离子迁移现象。
250V计测基板为8ch/1电源,MAX达128ch,500V计测基板为1ch/1电源,max达64ch,新设计的120V计测基板可以按每1ch分别设定试验条件(施加电压、电流测量值)
可以对应力施加电压和测量电压进行任意设定,通过切换时间可避免发生测量遗漏的情况。
以往机型的测量基板也可以并用。
绝缘老化测量评估系统还可以与SIR11、12 用测量基板混合使用。
施加电压 120V•250V•500V•1KV DC
测量频道 16ch/基板(max 128ch)
*:120V、500V、1KV为8ch/基板(max 64ch)
电流测量范围 1) 320μA ~ 10nA
2) 3.2μA ~ 10pA
3) 32nA ~ 1pA
迁移测量速度 40ms(8ch)